显微观察
研究显微镜、体视显微镜及工业观察配套。
显微观察、异物取样与微区转移,核对显微镜工作距离、样品和操作目标。
研究显微镜、体视显微镜及工业观察配套。
富士Smart Fine、Quick Fine与Simple Fine系列。
钨探针、硬质合金工具、玻璃微吸管与精密微刀。
共 36 项产品 · 第 1 / 2 页

SF-303 / SF-303R / SF-303L
Smart Fine 面向显微观察与微小样品拾取的一体化操作。显微镜、样品台及操作臂由统一软件控制。
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QF-RH / QF-LH / QF-RLH
Quick Fine 可配置在显微镜旁,通过鼠标与触控面板控制微操作臂。
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Simple Fine
Simple Fine 采用手动旋钮微调,适合以机械方式完成显微镜下的定位。
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FTP系列
钨探针适用于表面微小异物取样与微区接触。选择时需同时确认尖端直径、样品附着状态及配套手柄。
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FWP / FWS / PS-SET-L / TH
硬质合金工具提供探针与平刃两种形状,可按标记、切削或取样的操作方式选配。
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FMP / FGP / GH-1
玻璃工具分为中空微吸管与实心探针。微吸管可与微粒拾取装置配合,探针可用于 FIB 薄片转移。
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FMK-S15 / FMK-S30 / FMK-D / KH
不锈钢精密微刀可按薄膜切割与埋藏物露出等操作,选择单刃或双刃形状。
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FVP-01
FVP-01 通过吸取与释放功能处理微小颗粒,可用于金属碎片、矿物等不易用金属探针拾取的样品。
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XR-081
采用燕尾导轨与齿轮齿条驱动,适合长行程粗调,调节后可通过手柄夹紧固定。
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X11-011
铝制薄型燕尾导轨位移台,适合需要减小机构重量的短行程定位与设备集成。
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XC-60SM
铝制直线位移台采用交叉滚子导轨和侧置微分头,适合样品及光学组件的单轴精密定位。
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XC-60SMW
独立的粗调微分头与细牙微调机构配合交叉滚子导轨,可分阶段完成 X 轴定位。
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XC-60SMD
采用粗微调一体式微分头和交叉滚子导轨,可在同一调节位置进行粗调与精细定位。
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XA-300L
手轮与梯形螺杆驱动实现长行程直线移动,采用分体夹紧方式锁定移动轴。
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XC2-60SM
由两轴精密直线机构组合,侧置微分头便于分别调节 X、Y 位置。
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XC2-60FMT
采用细牙微分头与交叉滚子导轨,厚度为 25 mm,适合受高度限制的双轴定位。
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ZA-60M
保持台面水平并沿 Z 轴升降,微分头与交叉滚子导轨用于高度精密调节。
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ZA-60MD
粗微调一体式微分头驱动水平台面升降,适合需要分级定位的 Z 轴调节。
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ZA-60FMT
采用交叉滚子导轨与微分头驱动,为受限空间提供薄型垂直定位机构。
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ZA-300L
采用手轮与梯形螺杆进行长行程升降,适合光学装置的垂直位置调整。
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XC3-60SM
将水平与垂直精密位移机构组合,采用侧置微分头和交叉滚子导轨。
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XC4-60SM
组合三轴交叉滚子机构,适合样品或光学组件在三个平移方向上的精密调节。
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XC4-60SMD
三轴均采用粗微调一体式微分头,交叉滚子导轨用于样品与光学装置的精细定位。
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PC-100
NARISHIGE 原厂目录中的玻璃微管拉制仪。纵向拉制微量移液管。具体订货号、配置和交期以报价确认。
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