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尺寸量具、测力与物性测量

按测量对象与精度要求核对量具、测量装置和配套附件。

尺寸测量

卡尺、千分尺、测高与测厚仪。

力学与表面

推拉力计、硬度计与表面粗糙度测量。

称量与计量

实验室天平及测量工位配套。

相关产品与型号

共 49 项产品 · 第 2 / 3 页

TWIN NINES ZA-60MD 粗微调 Z 轴位移台
TWIN NINES ツクモ工学

TWIN NINES ZA-60MD 粗微调 Z 轴位移台

ZA-60MD

粗微调一体式微分头驱动水平台面升降,适合需要分级定位的 Z 轴调节。

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TWIN NINES ZA-60FMT 薄型 Z 轴交叉滚子位移台
TWIN NINES ツクモ工学

TWIN NINES ZA-60FMT 薄型 Z 轴交叉滚子位移台

ZA-60FMT

采用交叉滚子导轨与微分头驱动,为受限空间提供薄型垂直定位机构。

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TWIN NINES ZA-300L 长行程 Z 轴升降台
TWIN NINES ツクモ工学

TWIN NINES ZA-300L 长行程 Z 轴升降台

ZA-300L

采用手轮与梯形螺杆进行长行程升降,适合光学装置的垂直位置调整。

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TWIN NINES XC3-60SM XZ 双轴位移台
TWIN NINES ツクモ工学

TWIN NINES XC3-60SM XZ 双轴位移台

XC3-60SM

将水平与垂直精密位移机构组合,采用侧置微分头和交叉滚子导轨。

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TWIN NINES XC4-60SM XYZ 三轴位移台
TWIN NINES ツクモ工学

TWIN NINES XC4-60SM XYZ 三轴位移台

XC4-60SM

组合三轴交叉滚子机构,适合样品或光学组件在三个平移方向上的精密调节。

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TWIN NINES XC4-60SMD 粗微调 XYZ 三轴位移台
TWIN NINES ツクモ工学

TWIN NINES XC4-60SMD 粗微调 XYZ 三轴位移台

XC4-60SMD

三轴均采用粗微调一体式微分头,交叉滚子导轨用于样品与光学装置的精细定位。

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PANASONIC INDUSTRY 松下 HG-C1030 CMOS 激光测距传感器
パナソニック インダストリー株式会社(日本)

PANASONIC INDUSTRY 松下 HG-C1030 CMOS 激光测距传感器

HG-C1030

HG-C 系列微型激光测距传感器,测量中心为 30 mm,支持数字判定及模拟信号输出,用于工件位置与距离检测。

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MITUTOYO 三坐标测量机(CMM)
MITUTOYO

MITUTOYO 三坐标测量机(CMM)

三坐标测量机(CMM)

三坐标测量机(CMM)属于MITUTOYO的设备或产品系列。项目采购需先明确测量对象、精度、行程与软件配置,再核对具体型号、配套和安装条件。

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MITUTOYO 影像测量机
MITUTOYO

MITUTOYO 影像测量机

影像测量机

影像测量机属于MITUTOYO的设备或产品系列。项目采购需先明确测量对象、精度、行程与软件配置,再核对具体型号、配套和安装条件。

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MITUTOYO 轮廓与表面形状测量机
MITUTOYO

MITUTOYO 轮廓与表面形状测量机

轮廓与表面形状测量机

轮廓与表面形状测量机属于MITUTOYO的设备或产品系列。项目采购需先明确测量对象、精度、行程与软件配置,再核对具体型号、配套和安装条件。

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MITUTOYO 光学测量仪器
MITUTOYO

MITUTOYO 光学测量仪器

光学测量仪器

光学测量仪器属于MITUTOYO的设备或产品系列。项目采购需先明确测量对象、精度、行程与软件配置,再核对具体型号、配套和安装条件。

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MITUTOYO 硬度试验机
MITUTOYO

MITUTOYO 硬度试验机

硬度试验机

硬度试验机属于MITUTOYO的设备或产品系列。项目采购需先明确测量对象、精度、行程与软件配置,再核对具体型号、配套和安装条件。

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KEYENCE 数字显微镜
KEYENCE

KEYENCE 数字显微镜

数字显微镜

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KEYENCE 共聚焦激光显微镜
KEYENCE

KEYENCE 共聚焦激光显微镜

共聚焦激光显微镜

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JEOL 透射电子显微镜(TEM)
JEOL

JEOL 透射电子显微镜(TEM)

透射电子显微镜(TEM)

透射电子显微镜(TEM)属于JEOL的设备或产品系列。项目采购需先明确测量对象、精度、行程与软件配置,再核对具体型号、配套和安装条件。

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NIKON MM-400N测量显微镜
NIKON

NIKON MM-400N测量显微镜

MM-400N测量显微镜

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NIKON MM-800N测量显微镜
NIKON

NIKON MM-800N测量显微镜

MM-800N测量显微镜

MM-800N测量显微镜属于NIKON的设备或产品系列。项目采购需先明确测量对象、精度、行程与软件配置,再核对具体型号、配套和安装条件。

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カノマックス 便携式粒子计数器
カノマックス

カノマックス 便携式粒子计数器

便携式粒子计数器

便携式粒子计数器属于カノマックス的设备或产品系列。项目采购需先明确测量对象、精度、行程与软件配置,再核对具体型号、配套和安装条件。

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オリンパス BX53研究显微镜(现Evident)
オリンパス

オリンパス BX53研究显微镜(现Evident)

BX53研究显微镜(现Evident)

BX53研究显微镜(现Evident)属于オリンパス的设备或产品系列。项目采购需先明确测量对象、精度、行程与软件配置,再核对具体型号、配套和安装条件。

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オリンパス SZX16体视显微镜(现Evident)
オリンパス

オリンパス SZX16体视显微镜(现Evident)

SZX16体视显微镜(现Evident)

SZX16体视显微镜(现Evident)属于オリンパス的设备或产品系列。项目采购需先明确测量对象、精度、行程与软件配置,再核对具体型号、配套和安装条件。

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ケット科学研究所 L-600涂层测厚仪
ケット科学研究所

ケット科学研究所 L-600涂层测厚仪

L-600涂层测厚仪

L-600涂层测厚仪属于ケット科学研究所的设备或产品系列。项目采购需先明确测量对象、精度、行程与软件配置,再核对具体型号、配套和安装条件。

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ケニス 生物显微镜
ケニス

ケニス 生物显微镜

生物显微镜

生物显微镜属于ケニス的设备或产品系列。项目采购需先明确测量对象、精度、行程与软件配置,再核对具体型号、配套和安装条件。

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サンコウ電子研究所 SWT-NEO系列涂层测厚仪
サンコウ電子研究所

サンコウ電子研究所 SWT-NEO系列涂层测厚仪

SWT-NEO系列涂层测厚仪

SWT-NEO系列涂层测厚仪属于サンコウ電子研究所的设备或产品系列。项目采购需先明确测量对象、精度、行程与软件配置,再核对具体型号、配套和安装条件。

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ツクモ工学 NANO SEVEN 非接触纳米表面测量系统
ツクモ工学

ツクモ工学 NANO SEVEN 非接触纳米表面测量系统

NANO SEVEN 非接触纳米表面测量系统

NANO SEVEN 非接触纳米表面测量系统属于ツクモ工学的设备或产品系列。项目采购需先明确测量对象、精度、行程与软件配置,再核对具体型号、配套和安装条件。

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选型与采购信息

  • 被测物尺寸与材料
  • 测量范围、分辨率和精度
  • 安装夹具与校准文件要求
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